中文 英语

设计可靠性


电路老化是由于终端市场的SWATH的强制性设计问题,特别是在预期节点芯片预期超过几年的市场中。一些芯片制造商认为这是一个竞争的机会,但其他人不确定我们完全了解这些设备如何年龄。老化是最新的最新问题,在Desig中进一步推动了»阅读更多

UPF的许多味道:这是对您设计的合适的?


节能电子系统需要复杂的电源管理架构,这些架构呈现困难的低功耗验证挑战。Accellera于2007年推出了统一的电力格式(UPF)标准,以帮助工程师处理这些复杂问题。为了跟上低功耗设计的复杂性,UPF标准本身继续通过Relea进化......»阅读更多

基准测试的问题


长期以来一直用于比较产品的基准,但是是什么使得一个很好的基准以及谁应该信任他们的创作?对这些问题的答案比表面上可能出现的问题更困难,并且一些基准以惊人的方式使用。每个人都喜欢一个简单的清晰的基准,但只有在选择标准同样简单时才可能。unfortuna ......»阅读更多

使用AWS Cloud Services for IC库表征,可扩展,安全,快速


西门子AMS验证团队和亚马逊网络服务(AWS)合作,为用户提供一个可伸缩的、安全的和具有成本效益的云特征流,使用户能够利用云计算资源,加快图书馆的特征,减少计算资源瓶颈,以及提高描述运行时可预测性。想要了解更多,请点击这里。»阅读更多

博客评论:2月10日


Cadence的Paul McLellan发现了最近的半行业战略研讨会的一些紧迫技术挑战和机遇,从半导体制造中使用的纯净和其他材料的纯度,以提高成本和上市的压力。西门子EDA的Harry Foster检查了低功耗ASIC和IC设计的趋势,包括电力的积极管理和...»阅读更多

汽车测试在系统中移动


随着汽车的电气化,在制造过程结束时对新电子设备进行彻底的测试是不够的。现在的安全标准要求测试必须在现场现场进行,并在测试失败时制定应急计划。“我们看到汽车半导体供应链对专门针对系统内监控的设计功能的明确需求,……»阅读更多

解决Automotive Soc中的重置域交叉数据损坏的四个步骤


现代汽车soc通常包含多个异步复位信号,以确保系统功能从意外情况和故障中恢复。这种复杂的重置体系结构会导致一系列新的问题,如可能的重置域交叉(RDC)问题。传统的时钟域交叉(CDC)验证了时钟域交叉的有效性。»阅读更多

较长的芯片生命周期增加安全威胁


使用的芯片和电子系统越长,就越需要更新软件和固件。这造成了一个全新的安全风险级别,从空中拦截到供应链受损。随着越来越多的设备连接到互联网和彼此之间,这些问题不断升级,但尤其令人担忧的是,它涉及……»阅读更多

具有观察扫描技术的Tessent Logicbist


满足ISO 26262对高质量和长期可靠性的要求,实现IC逻辑高缺陷覆盖的片上安全机制。本文介绍了观察扫描技术,这是一种新的新逻辑内置自检(BIST)技术,可提高逻辑BIST测试质量并降低系统内测试时间。经验结果显示90%的测试覆盖率,最高可达10倍......»阅读更多

博客评论:2月3日


Cadence的Paul McLellan听取了Semi最近的行业战略研讨会的展望,该研讨会研究了全球复苏的前景,预计会有增长的应用领域以及最近进行的分部。西门子EDA的Harry Foster看看采用语言和IC和ASIC设计的语言和图书馆的趋势,并发现对系统的持续兴趣......»阅读更多

←旧的文章