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使用AWS Cloud Services for IC库表征,可扩展,安全,快速


西门子’ AMS Verification team and Amazon Web Services (AWS) have collaborated to provide users with a scalable, secure and cost-effective cloud characterization flow that enables users to leverage cloud computing resources to accelerate library characterization, reduce compute resource bottlenecks, as well as improve characterization runtime predictability. To read more, click here.“ 阅读更多

博客评论:2月10日


Cadence的Paul McLellan发现了最近的半行业战略研讨会的一些紧迫技术挑战和机遇,从半导体制造中使用的纯净和其他材料的纯度,以提高成本和上市的压力。西门子EDA的Harry Foster检查了低功耗ASIC和IC设计的趋势,包括电力的积极管理和...“ 阅读更多

汽车测试在系统中移动


随着汽车的电气化,在制造过程结束时彻底测试新电子器件是不够的。安全标准现在要求在现场进行现场测试,应在测试失败时进行应急计划。“我们看到汽车半导体供应链的清晰需求,用于专门针对系统内监控的设计功能,�......“ 阅读更多

解决Automotive Soc中的重置域交叉数据损坏的四个步骤


By Kurt Takara(西门子EDA),Ankush Sethi(NXP)和Aniruddha Gupta(NXP)现代汽车SOC通常包含多个异步复位信号,以确保从意外情况和故障系统的系统功能恢复。这种复位重置架构导致了一组新的问题,例如可能的复位域交叉(RDC)问题。传统时钟域交叉(CDC)VERI ...“ 阅读更多

较长的芯片生命周期增加安全威胁


芯片和电子系统仍在使用中,需要使用软件和固件更新刷新的越多。这创造了全新的安全风险水平,从空中截取到损害供应链。随着更多设备与互联网连接到互联网并彼此相互连接,这些问题一直升级,但是当它涉及时才尤其令人担忧......“ 阅读更多

弥合智能城市与自治车辆之间的差距


智能城市规划师和汽车制造商正在摔跤,具有类似的问题和目标,但它们在非常不同的步伐和经常使用不同的技术工作 - 尽管这两个世界需要弥合,以便有用。在城市地区最佳地移动交通对于减少能源消耗和事故以及移动应急车辆来说至关重要。“ 阅读更多

具有观察扫描技术的Tessent Logicbist


满足ISO 26262对高质量和长期可靠性的要求,实现IC逻辑高缺陷覆盖的片上安全机制。本文介绍了观察扫描技术,这是一种新的新逻辑内置自检(BIST)技术,可提高逻辑BIST测试质量并降低系统内测试时间。经验结果显示90%的测试覆盖率,最高可达10倍......“ 阅读更多

博客评论:2月3日


Cadence的Paul McLellan听取了Semi最近的行业战略研讨会的展望,该研讨会研究了全球复苏的前景,预计会有增长的应用领域以及最近进行的分部。西门子EDA的Harry Foster看看采用语言和IC和ASIC设计的语言和图书馆的趋势,并发现对系统的持续兴趣......“ 阅读更多

设计低能量芯片和系统


随着设计团队开始检查设备的性能而不影响电池寿命或驾驭电力成本,开始能量优化开始左转。与功率优化不同,熟练的工程团队可以将功率降低1%至5%,能效可能会降低有效功率。但那些收益需要重新思考......“ 阅读更多

拥有没有危及DFT的全部


对于当今大型和复杂的SOC的制造测试时间的戏剧性上升源于使用传统方法来将扫描测试数据从芯片级引脚移动到核心级扫描通道。PIN复用(MUX)方法适用于较小的设计,但由于当今SOC的核心数量和设计复杂性增加,可能会变得有问题。下一个狂欢......“ 阅读更多

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